SWIR短波红外3D模组近场光斑测量相机NFCS-SW01用于1000nm~1700nm波段范围VCSEL/EEL/LD/LED等光源器件及模组的近场性能参数测试,具备非制冷、量子效率高、低噪声、测量尺寸大、空间分辨率高、工作距离大、稳定性高、界面友好、可定制化等特点。采用高分辨率传感器,结合可切换多倍率近场镜头,满足模组、器件及单点等多种测量需求。
产品适用于iTOF、dTOF、Structured light、LiDAR及光通信系统等。
NFCS-SW01可用于1000nm~1700nm波段范围VCSEL/EEL/LD/LED等光源器件及模组的近场性能参数测试,具备非制冷、量子效率高、低噪声、测量尺寸大、空间分辨率高、工作距离大、稳定性高、界面友好、可定制化等特点。采用高分辨率传感器,结合可切换多倍率近场镜头,满足模组、器件及单点等多种测量需求。产品适用于iTOF、dTOF、Structured light、LiDAR及光通信系统等。

光源芯片/DOE/Diffuser结构尺寸
有效工作区域尺寸(对象角)
激光安全分析
相对光强分布
光束截面
坏点检测
光强均匀性
光强稳定性
传感器类型:InGaAs, Monochrome
传感器像素:≧640×512
镜头倍率:5×/10×/其他可切换
帧频:≥100fps
视场:1.4mm×1.0mm@5×
空间分辨率:0.5μm(最高放大倍数)
工作距离:30mm