光学表面瑕疵/光洁度检测系统OSMS-8000主要针对滤光片、平面光学元件的光洁度检测，系统具备高性能光机系统，并具备智能算法，可持续学习更新缺陷类型。 经过实际测试，系统漏检率、误检率低，可代替传统人工显微镜检测。

系统指标如下：

• 系统功能可检测滤光片表面的麻点、划痕、崩边等缺陷

• 可自动给出被检测滤光片的数量，尺寸等信息

• 可给出被检测滤光片的质量等级：A级、B级、不合格

• 检测滤光片尺寸范围 0.2×0.2mm~50mm×50mm；

• 滤光片盒尺寸 55×55mm；若更换滤光片盒尺寸可通过重新定制夹具实现

• 单次可放置滤光片盒数 最多可放置6盒

• 单组检测时间 ≦10min/600片

• 漏检/误检概率 通过算法优化可与人工检测一致；≦0.1%

• 软件功能 适应Windows11 操作系统；

• 可长期稳定工作

• 具备设备控制，检测报告输出打印等功能；

• 自动提取滤光片数量、尺寸、位置等信息；

• 具备智能判断缺陷功能；

• 操作台洁净度 内部空气经过过滤达到百级洁净度

• 重量体积 ~900×900×1800mm； 重量≦500Kg；

• 工作环境 工厂环境，通过自重可消除平台移动引起的抖动

• 供电220V交流