VCSEL近场光斑显微测试相机NFCS-VNIR02专门用于Vcsel等发光光源器件的性能参数测试，具备近红外波段量子效率高、采集帧频高、放大倍率高、测量精度高的优点。采用1200万像素的高分辨率相机，使系统具备高分辨率测量的需求；同时显微镜头可实现5倍/10倍可更换，实现不同放大倍率测量的功能；可测量发光区尺寸、发光孔坏点检测、发光孔相对强度测量、发光孔的强度稳定性检测等参数。产品操作简单，界面友好，使用方便。

功能

可测试发光光源器件的性能参数如下：

l 带/不带diffuser显微测量

l 发光区域尺寸

l 自动提取光束中心

l 相对发光强度分布

l 光束截面分布

l 芯片发光强度均匀性等参数的检测功能

性能和指标

l 探测器类型：单色CMOS

l 探测器快门： 全局快门

l 传感器像素：4096×3000

l 放大比例:5倍/10倍可切换

l 帧频： ≧30fps@4096×3000；

l 重量： ≦50Kg

l 体积： ≦1000mm×600mm×600mm；

l 功耗： ≦100W

l 工作电压： AC220V±10% ,50Hz±5%

l 工作温度：20℃±10℃

l 存储温度： -40~+50℃

l 相对湿度：≤85%

   VCSEL近场光斑显微测量相机VNIR NFCS1也可设置M×N分块测量模式，以中心分块光强为1.0,计算其余各分块区域相对中心区域强度的比值。

光斑分块测量图

  VCSEL近场光斑显微测量相机VNIR NFCS1可根据光强分布，显示光斑的三维轮廓线，其纵坐标为光强值，可更直观的显示发光器件的轮廓线。

          VCSEL近场光斑显微测量相机VNIR NFCS1可测量出光斑的尺寸，进行直线，圆，矩形等方式进行测量。

         VCSEL近场光斑显微测量相机测量光斑强度图如下图所示：